Zeta電位分析儀在Zeta電位測量領(lǐng)域的應(yīng)用
更新時(shí)間：2021-06-10 | 點(diǎn)擊率：2137
Zeta電位分析儀使用激光多普勒電泳光散射技術(shù)測量電泳遷移率和Zeta電位，使用優(yōu)化的反演算法，使得測量結(jié)果準(zhǔn)確度高、重復(fù)性好，還可與多功能自動(dòng)滴定系統(tǒng)相連接，配合強(qiáng)大易用的控制軟件，獲得Zeta電位隨pH值、添加劑濃度及溫度變化的趨勢。軟件還具有一鍵式SOP測量功能，無需用戶干預(yù)，自動(dòng)調(diào)整散射光、自動(dòng)優(yōu)化光子相關(guān)器參數(shù)，以適應(yīng)不同樣品。是測量Zeta電位的信賴之選。
Zeta電位分析儀在Zeta電位測量領(lǐng)域的應(yīng)用：
1.藥品和工業(yè)用乳膠表面重整控制
2.表面活性劑功能分析與研究
3.紙漿添加劑性能研究
4.電解聚合物功能分析
5.蛋白質(zhì)功能分析與研究
6.食品、香水、藥品和化妝品等乳劑的分散和凝聚控制
7.核糖體分散和凝聚控制研究
Zeta電位分析儀電位測量的性能特點(diǎn)：
1.利用光纖將發(fā)射光路和接收光路集成在一起，替代傳統(tǒng)電泳光散射裝置的光路，利用光纖傳輸參考光和散射光信號，使光信號不易受灰塵和外界雜散光的干擾，有效地提高了信噪比和抗干擾能力。
2.先對散射光信號進(jìn)行頻譜估計(jì)，獲取需要細(xì)化分析的頻譜范圍，然后使用線性調(diào)頻變換頻譜細(xì)化算法在窄帶范圍內(nèi)進(jìn)行高分辨率的頻譜細(xì)化分析，從而獲得準(zhǔn)確的散射光頻移，Zeta電位測量范圍達(dá)到-600mV~+600mV。
3.利用擬合算法獲得精確的Henry函數(shù)表達(dá)式，基于雙電層理論模型，求解顆粒的雙電層厚度，從而獲得準(zhǔn)確的顆粒半徑與雙電層厚度的比值，進(jìn)而有效提高了Zeta電位的計(jì)算精度。
400-108-5268
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