納米粒度電位儀是一種用于測(cè)量膠體溶液中顆粒表面電荷性質(zhì)的儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、藥物遞送、化妝品、環(huán)境監(jiān)測(cè)等多個(gè)領(lǐng)域。它主要通過(guò)分析顆粒在液體中的電位來(lái)推測(cè)顆粒的穩(wěn)定性、表面電荷特性以及分散性。

　　一、工作原理

　　納米粒度電位儀的工作原理基于電動(dòng)光散射技術(shù)。Zeta電位反映的是顆粒在電場(chǎng)中的遷移速度，與顆粒表面的電荷和溶液的離子環(huán)境密切相關(guān)。Zeta電位的大小和符號(hào)直接影響膠體溶液的穩(wěn)定性，特別是在納米粒子的分散性方面。具體工作步驟如下：

　　1、電泳遷移：當(dāng)顆粒懸浮在溶液中時(shí)，如果在外加電場(chǎng)作用下，帶電顆粒會(huì)沿電場(chǎng)方向發(fā)生遷移。顆粒的遷移速度與外加電場(chǎng)強(qiáng)度成正比，而遷移速度的大小與顆粒的表面電荷密切相關(guān)。

　　2、光散射測(cè)量：通過(guò)一個(gè)激光光源照射溶液中的顆粒。當(dāng)顆粒在電場(chǎng)中遷移時(shí)，由于其表面電荷的影響，它們?cè)诠庠凑丈湎聲?huì)發(fā)生散射。通過(guò)檢測(cè)散射光的頻率變化來(lái)測(cè)定顆粒的運(yùn)動(dòng)速度。

　　3、Zeta電位計(jì)算：根據(jù)顆粒的遷移速度和溶液的粘度、電導(dǎo)率等參數(shù)，使用斯托克斯-愛(ài)因斯坦公式或赫茲模型計(jì)算出顆粒的Zeta電位值。通常，Zeta電位的絕對(duì)值越大，顆粒之間的相互排斥力越強(qiáng)，溶液的穩(wěn)定性越高；反之，Zeta電位接近零時(shí)，顆粒容易聚集，溶液不穩(wěn)定。
 

　　二、技術(shù)特點(diǎn)

　　1、高精度測(cè)量：納米粒度電位儀能夠精確測(cè)量納米級(jí)顆粒的Zeta電位，通常測(cè)量范圍可達(dá)到幾納米到幾微米的粒徑范圍。高靈敏度和高精度使其成為研究納米顆粒表面性質(zhì)的理想工具。

　　2、自動(dòng)化和易操作性：大多具備自動(dòng)樣品加載、自動(dòng)電場(chǎng)控制和自動(dòng)數(shù)據(jù)分析功能。操作人員只需要將樣品放入儀器，系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)完成數(shù)據(jù)采集與分析，極大提高了工作效率。

　　3、廣泛的應(yīng)用范圍：該儀器能夠分析各種類型的顆粒，包括金屬、氧化物、聚合物和生物顆粒等。它適用于各種溶液體系，如水溶液、有機(jī)溶劑、乳液、膠體等。因此，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、藥物遞送、食品工業(yè)、環(huán)境監(jiān)測(cè)等領(lǐng)域。

　　4、對(duì)環(huán)境影響的敏感性：Zeta電位不僅與顆粒的表面電荷有關(guān)，還與溶液的pH值、離子強(qiáng)度等環(huán)境因素密切相關(guān)。通常配備了調(diào)節(jié)溶液條件的功能，使其能夠在不同的實(shí)驗(yàn)條件下進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量。

　　納米粒度電位儀作為一款高精度的分析儀器，能夠?yàn)楦鱾€(gè)領(lǐng)域提供精準(zhǔn)的Zeta電位測(cè)量結(jié)果。通過(guò)對(duì)顆粒表面電荷的精確測(cè)量，它能夠有效評(píng)估分散體系的穩(wěn)定性，幫助優(yōu)化材料和產(chǎn)品的性能。